日本topcon-techno 2D分光辐射计 SR-5100
产品概要
2D分光辐射计SR-5100为具有点测定的分光辐射计同等性能，且可以面测定的2D分光辐射计。
2D分光辐射计SR-5100以非破坏・非接触的方式，测量光源的光谱特性，材料分光穿透率及物体的分光反射率特性，拥有高分辨率（500万像素）高量程（170亿cd/m2） 透过每1nm的分光特性测量，在客户产品质量维持上做出贡献。
在极速开发中的Micro/Mini LED显示屏及相关材料，物质质感，肌肤护理，纤维染织物，景观等广泛业种用途上使用。
￭ 高分辨率500万像素(2448×2048)的高亮度量程的分光测量(170亿cd/m2)。
￭ 非破坏・非接触方式，高精度500万点，分光测量光源光谱特性及材料分光穿透率特性、物体分光反射率特性。
￭ 单点式分光辐射计同等性能的２维分光辐射计。
￭ 对可追溯性光源校正，达成高精度的亮度及色度精度保证。
￭ 装载分光及XYZ测量模式，发挥各优点的高精度及高速的符合机型。
￭ 付标配软件。
￭ LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及关联材料等的亮度・色度、分光光谱的评价
￭ 汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱的评价
￭ LED照明、OLED照明的发光部的亮度・色度均匀性、分光光谱均匀性的评价
￭ 室内及室外的景物的分光光谱的评价
￭ 纤维染织物的分光光谱的评价
￭ 肌肤斑与暗沉等肌肤护理关联的评价
￭ 吸收、反射、穿透特性的分析
￭ 光学膜及涂层的不均匀、干涉条纹的测量
￭ 病理组织的染色状态的些微差异的解析及量化评价测量(SR-5100HM+显微镜)
日本topcon-techno 2D分光辐射计 SR-5100
技术规格测定模式 | 分光模式 |
光亮采集 | 500万画素 彩色CMOS图像传感器 |
对物镜 | 标准：f=32mm |
有功像素 | 2448×2048 |
测定范围 (*2) | 0.5 – 17,000,000,000 cd/m2 |
测定波长范围 | 380～780nm |
波长精度 (*4) | ±0.5nm *Hg 波宽线上、高精度模式时 |
光谱波宽 (*5) | 7nm (半波宽) |
波长分解能力 | 1nm |
直线性 | 亮度：±2%以内 (*3,*6) |
面内MURA均匀性 (*10) | 亮度：±2%以内 |
重复精度 | SR-5100HWS/SR-5000HM |
界面 | USB3.0 / 外部垂直同步信号输入 |
电源 | AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
功率 | 约20W |
使用条件 | 0 – 35℃、80%R.H.以下(且无凝露) |
外形尺寸 | 标准：W162×H247×D372.5 mm |
质量 | 标准：约6.3kg |
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