日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N
产品概要
本产品量程极为宽广，z低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度；
z高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性，是目前行业内的*产品，同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过新搭载的FIX模式，实现了测定条件的自动化功能，从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品，不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的LED背光模组的设计与研发，同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。
￭ 量程特别宽广，宽至0.0005～5,000,000cd/m²。
￭ 搭载FIX模式，可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较，可缩短1/2时间)
￭ 提升了灵敏度的均衡性能，从而能轻松测定LED芯片。
￭ 装上照度接口（选配件）后，还能够测定照度（lx）。
￭ 光谱波宽、半波宽5nm
￭ LED背光、LED照明器具的亮度・色度，以及色温度特性，显色性评价。
￭ LCD、OLED等，显示器的亮度・色度，色温度特性等所有光学特性评价指标。
￭ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。
￭ 作为光学特性评价探头，搭载于各类自动测量机台上。
日本topcon-techno分光辐射计 SR-LEDW-5N
技术规格光亮采集 | 电子冷却型线性阵列传感器 |
波长分散原理 | 衍射光栅 |
光学系统 | 对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
测定角 | 2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式 |
测定距离 | 350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
光谱波宽 | 5nm *半波宽 |
波长精度 | 0.3nm *Hg 波宽线上 |
测定波长范围 | 380 – 780nm |
波长分解能力 | 1nm |
测定模式 | 自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入 |
测定内容 | 分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
演算内容 | 辐射亮度 Le : W･sr-1･m-2, 亮度 Lv : cd･m-2, |
亮度测定范围(*1) (*2) | 2°：0.0005 – 1,500,000 cd/m2 |
亮度精度(*1) | ±2% 以下 |
色度精度 (*1) | ±0.002 |
重复精度: 亮度(*3) | 1.5% ： 0.0005～0.005 cd/m² |
重复精度: 色度(*4) | 0.005 ： 0.0005～0.005 cd/m² |
偏光特性 | 亮度 : 1％ 以下, 分光辐射亮度 : 2％ 以下 (400 – 780nm) |
测定时间(*5) | NORMAL 模式: 约1 – 248秒 |
界面 | RS-232C, USB 2.0 |
电源 | AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
功率 | 约 36W |
使用条件 | 温度: 5 – 30℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
外形尺寸 (W×D×H) | 150×406×239mm |
质量 | 约 5.5kg |
18221259202