MX63/MX63L 半导体/FPD检查显微镜
满足电子行业需求
功能性
为满足电子行业的人体工学和安全性要求而设计的附加功能以增强分析能力
MX63/MX63L 半导体/FPD检查显微镜人性化
简洁的显微镜设置使用户调整和再调用系统配置变得更为轻松。
*的成像技术
我们成熟可靠的光学器件和优良的成像技术可获得清晰图像，并完成可靠检测。
模块化
用户可通过选择适合其应用的模块进行系统定制。
*的分析工具
MX63系列的各种观察功能可生成清晰的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新
照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结
果提供更多选择。
从不可见到可见：MIX观察与采集
通过暗场与明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用，MIX观察技术能够获得特殊的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以观察的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕，有助于观察样品的表面纹理。
西努光学创建于2003年，主营工业显微镜及制样设备、镜片测定设备，高速摄像系统、工业内窥镜、机器视觉等工业及科研应用的检测设备及系统集成。
西努光学秉承“以光学为核心，为客户提供解决方案”的经验思路，经过17年的努力，成为众多企业、高校科研单位提供各种专业化的光学系统解决方案。并于2012 年导入SAP 管理系统，通过系统资源整合，为客户提供更优质、快捷的专业化服务。
2016年，我们积极引进*、检测设备的同时导入制样等配套设备以丰富我们实验室平台，以更好的为客户提供现场体验，从微米到纳米满足客户从制样到结果分析的一站式体验服务。
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