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首页 > 供应产品 > KDY-1A便携式电阻率测试仪(成套) 测量硅晶体薄硅片电阻率及方阻
KDY-1A便携式电阻率测试仪(成套) 测量硅晶体薄硅片电阻率及方阻
单价 1.00 / 台对比
销量 暂无
浏览 667
发货 北京
库存 10台起订1台
品牌 北京佳航
电 源 220V
测量范围 2000MΩ
过期 长期有效
更新 2025-01-16 17:20
 
详细信息
电 源 220V
测量范围 2000MΩ
测量方法 欧姆表法
测量精度 ±3%
结构类型 数字式电阻测量仪表
类型 接地电阻测量仪
品牌 北京佳航
型号 KDY-1A
加工定制

KDY-1A便携式电阻率测试仪(成套)


1、符合半导体材料电阻率的国际及标准测试方法。

2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体,也可测量薄硅片电阻率及方阻。

3、电阻率测量范围复盖常用的区段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能)

     方块电阻测量范围复盖常用的区段:0.1—1999Ω/□。(可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能)

4、配置高精度恒流源,测量电流稳定,分两档:1mA、10mA,每档均可在大范围内调节(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。

5、测量精度高:电器测量精度优于0.3%;

     整机测量误差:测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。

     测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。

6、重量轻,约2.5kg;体积小:240×210×100(mm)。

7、可配用多种探针间距的四探针头:1.00mm、1.59mm。